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產品介紹/ PRODUCT PRESENTATION| 品牌 | 德祥儀器 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,電氣,綜合 | 溫度范圍 | +100℃～+132℃ |
| 濕度范圍 | 70%~100% | 濕度控制穩定度? | ±3%RH |
| 使用壓力? | 1.2~2.89kg(含1atm) | 壓力波動均勻度? | ±0.1Kg |
hast高壓加速老化試驗箱設備特點：
1)采用進口耐高溫電磁閥雙路結構，降低了使用故障率。
2)獨立蒸汽發生室，避免蒸汽直接沖擊產品，以免造成產品局部破壞。
3)門鎖省力結構，解決第一代產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。
4)試驗前排冷空氣；試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩定性、再現性.
5)超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉400小時.
6)水位保護，透過試驗室內水位Sensor檢知保護.
7)tank耐壓設計，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.
8)二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置.
9)安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .
10)偏壓測試端子耐壓可達3000V(選配）
11)USB導出歷史記錄數據，曲線.
hast蒸汽老化試驗箱用途：
加速壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。
hast壽命試驗箱（Highly Accelerated Stress Test），也叫做快速老化試驗箱，是一種常用的電子元器件可靠性測試設備。它主要用于模擬高溫高濕環境下的加速老化條件，以評估電子元器件在環境下的可靠性和壽命。
hast壽命試驗箱采用高壓飽和蒸汽的方式，將樣品置于高溫高濕環境中，并施加一定的電氣應力，以模擬真實環境中的潮濕條件。通過加速老化過程，可以在相對較短的時間內觀察到可能會發生的故障和退化現象，從而提前檢測和改善電子元器件的可靠性。
在HAST壽命試驗中，樣品通常放置在密封的試驗室中，具有溫度和濕度控制功能。試驗箱還可能包括振動或機械應力等其他環境因素，以更準確地模擬真實工作環境。
HAST壽命試驗箱廣泛應用于電子元器件、半導體芯片、集成電路等領域的可靠性測試中。通過該設備，制造商可以評估產品在高溫高濕環境下的性能和壽命特性，優化產品設計和生產工藝，提高產品質量和可靠性，以滿足市場需求和用戶期望。
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